了解田間作物的基因型、環境和管理的相互作用對于新品種選育和農作物田間管理系統來說是至關重要的。其中，植物圖像分析被認為是一個強有力的高通量無損測量田間表型的技術。云飛科技根據光照強度、生長環境和發育階段的多樣性對成像造成挑戰，特生產出植物圖像冠層分析儀進行圖像冠層檢測。

 

　　作物的長勢對后期的作物產量和品質都有影響，在生長過程中能夠進行圖像冠層檢測是一項重要的內容。需要利用冠層圖像分析系統來能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等來實現冠層面積測量的。而通過植物圖像冠層分析儀在田間作物長勢監測中的應用，可以幫助生產者評價作物的生長情況，科學指導生產，實現高產的目標。

　　植物圖像冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。      >>>>推薦閱讀：植物圖像冠層分析儀分析玉米冠層

　　因此使用植物圖像冠層分析儀來開展田間作物的測定，可以幫助種植者及時采取種植措施，通過科學施肥和灌溉、冠層結構調整等來提高作物的光合作用，提升農業生產的效益。因此植物圖像冠層分析儀不僅是田間作物長勢監測的工具，也是科學改良農業生產工藝的重要儀器。